半導(dǎo)體材料
GDMS儀器具有對不同形態(tài)的材料分析能力。可以分析任何形態(tài)的樣品 (塊材,薄片,顆粒,粉末等),這對于高性能材料加工 的行業(yè),在同樣的分析基礎(chǔ)上,為材料在加工前后提供更客觀的分析數(shù)據(jù),優(yōu)化生產(chǎn)工藝。

GDMS常規(guī)檢測限 Si片/Si塊

GDMS常規(guī)檢測限 Si顆粒/Si粉(使用輔助電極)

GDMS儀器具有對不同形態(tài)的材料分析能力。可以分析任何形態(tài)的樣品 (塊材,薄片,顆粒,粉末等),這對于高性能材料加工 的行業(yè),在同樣的分析基礎(chǔ)上,為材料在加工前后提供更客觀的分析數(shù)據(jù),優(yōu)化生產(chǎn)工藝。

GDMS常規(guī)檢測限 Si片/Si塊

GDMS常規(guī)檢測限 Si顆粒/Si粉(使用輔助電極)
