X-射線熒光光譜/XRF
一種能快獲得材料中化學成分信息的無損分析方法,適用于各種形態的樣品(包括固體、粉末、顆粒、液體等)。
設備型號:ATLAS
生產廠商:IXRF SYSTEMS


特點
檢測速度快,數分鐘內就可獲得材料的組成信息 (元素檢測范圍:Na~U)
· 主要應用:未知物分析,牌號鑒定
取樣面積小,最小取樣面積5um
· 主要應用:分辨微小區域的組成比例分布,可做微區面掃描分析(mapping)
測量重現性高,主元素RSD<0.5%
· 主要應用:材料研發,工藝調整,反向工程。
一種能快獲得材料中化學成分信息的無損分析方法,適用于各種形態的樣品(包括固體、粉末、顆粒、液體等)。
設備型號:ATLAS
生產廠商:IXRF SYSTEMS


特點
檢測速度快,數分鐘內就可獲得材料的組成信息 (元素檢測范圍:Na~U)
· 主要應用:未知物分析,牌號鑒定
取樣面積小,最小取樣面積5um
· 主要應用:分辨微小區域的組成比例分布,可做微區面掃描分析(mapping)
測量重現性高,主元素RSD<0.5%
· 主要應用:材料研發,工藝調整,反向工程。